概述

      增強離子遷移譜氣體分析儀可(ke)提供達100 FWHM的(de)(de)(de)分(fen)(fen)辨(bian)率(lv)，足(zu)以分(fen)(fen)辨(bian)異構(gou)體成分(fen)(fen)。SIMS的(de)(de)(de)一(yi)大(da)優勢(shi)是可(ke)以使(shi)用環境(jing)大(da)氣作為緩沖氣，這(zhe)一(yi)優勢(shi)就把使(shi)用成本減低為零。 SIMS儀(yi)器的(de)(de)(de)離子(zi)(zi)遷移譜(pu)技(ji)術通過電(dian)(dian)暈放電(dian)(dian)（CD）電(dian)(dian)離源提升了(le)靈敏度。除了(le)其(qi)他比(bi)如無放射性(xing)和更高離子(zi)(zi)產量的(de)(de)(de)優勢(shi)之外(wai)，我們(men)的(de)(de)(de)技(ji)術還提供了(le)電(dian)(dian)暈放電(dian)(dian)選擇(ze)性(xing)反應物離子(zi)(zi)的(de)(de)(de)產生。除了(le)可(ke)供OEM的(de)(de)(de)SIMS引擎，我們(men)還提供可(ke)與GC聯用便攜式的(de)(de)(de)PSIMS，可(ke)配置正負極性(xing)的(de)(de)(de)雙離子(zi)(zi)遷移光譜(pu)儀(yi)DSIMS等，以滿足(zu)不同的(de)(de)(de)需求。

增強離子遷移譜氣體分析儀應用：

l 過程快速監測

l VOC/TOC監測(ce)

l 痕量氣體分析

l 液體分析(xi)，固體和表面(mian)分析(xi)

l 爆炸物分析

l 藥品質量控制

特點

l 高分辨(bian)力和(he)靈敏度

l 無放射(she)性等(deng)離子電離源(yuan)

l 可(ke)在大氣壓(ya)或者次(ci)大氣壓(ya)下運行

l 選(xuan)擇性(xing)反(fan)應物(wu)離子(zi)生(sheng)成

l 與其他分離技術結合

l 對所有運行參數的全面控制(zhi)

配套的(de)(de)(de)(de)(de)軟件(jian)可(ke)(ke)以快(kuai)速查看(kan)屬(shu)于(yu)當前操作間的(de)(de)(de)(de)(de)測(ce)量(liang)(liang)點(dian)；由于(yu)這些點(dian)的(de)(de)(de)(de)(de)分析是EIMS完成的(de)(de)(de)(de)(de)，每個測(ce)量(liang)(liang)點(dian)的(de)(de)(de)(de)(de)目標氣體都是同步(bu)檢測(ce)的(de)(de)(de)(de)(de)。對于(yu)每個測(ce)量(liang)(liang)點(dian)，可(ke)(ke)以看(kan)到上一次測(ce)量(liang)(liang)的(de)(de)(de)(de)(de)值，而當前測(ce)量(liang)(liang)點(dian)會(hui)突出顯示所在(zai)的(de)(de)(de)(de)(de)狀態。此外，還(huan)可(ke)(ke)以查看(kan)系統是在(zai)手動(dong)(dong)模(mo)(mo)式(shi)還(huan)是自動(dong)(dong)模(mo)(mo)式(shi)下(xia)測(ce)量(liang)(liang)，是在(zai)測(ce)量(liang)(liang)樣本還(huan)是在(zai)后(hou)臺階段，自動(dong)(dong)序列(lie)的(de)(de)(de)(de)(de)哪個點(dian)正(zheng)在(zai)掃描，以及一個進度條，指(zhi)示序列(lie)的(de)(de)(de)(de)(de)下(xia)一步(bu)還(huan)剩多(duo)少。